本標準參考物質（SRM）由燒結氧化鋁盤組成，用于校準X射線粉末衍射設備的線位置和強度，作為20°角的函數。固體形式的SRM消除了樣品加載過程引入的強度測量的任何變化。SRM 1976c的一個單元由直徑約25.6mm、厚度約2.2mm的燒結氧化鋁盤組成。

現貨！美國NIST SRM 1976c 氧化鋁衍射標準品的研究使用

品牌：美國NIST標準品

貨號：SRM 1976c

英文名稱：Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction

中文名稱：氧化鋁衍射標準品，X射線粉末衍射標準品

產品規格：1 disc

使用說明：

選擇SRM的光盤格式是為了適應許多樣品架的幾何形狀。衍射數據只能從標簽對面收集。在制造過程中用于制造光盤的沖壓操作導致光盤表面邊緣相對于中心凹陷約1（um）。雖然由于氧化鋁對X射線的低衰減，這并不被視為一個重大困難，但安裝過程中的高度調整應相對于光盤中心（另見“SRM 1976c用于儀器靈敏度測試"）。

材料描述：

用于生產這種SRM的制造工藝是為生產電子元件基板而開發的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結構），具有片狀顆粒形態。血小板的直徑通常為5μm至10μm，厚度為2μm至3μm。圓盤的壓實過程產生了軸對稱紋理，其基面傾向于與圓盤表面平行。紋理的這種軸對稱特性允許在圍繞表面法線的任何方向上安裝樣品。使用少量鈣長石玻璃相對壓塊進行液相燒結。未檢測到結晶雜質。液相燒結中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結溫度冷卻工件的過程中松弛。這導致微應變及其相關譜線加寬的最小發展；盡管可以檢測到一些微應變，如具有tanθ依賴性的高斯展寬。考慮到這一點，并且基本上沒有晶粒尺寸加寬，SRM 1976c可用于獲得儀器輪廓函數（IPF）的近似值。然而，不建議使用SRM 1976c進行定量微觀結構分析。構成該SRM原料的圓盤是在一次專門的生產運行中制造的，以確保微觀結構在粒度、形狀、微應變和紋理方面的一致性。

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